天津市拓普儀器
Tianjin Topu Instrument
服務(wù)熱線：022-88289916
Tianjin Topu Instrument
服務(wù)熱線：022-88289916
更新時間：2014-08-20
點擊次數(shù)：3959
目的：研究薄膜的光學(xué)透射性能
檢測:不同金屬薄膜在紫外可見近紅外的光譜
原理：研究薄膜的光學(xué)透射性能以及均勻性
試驗方法：
采用紫外可見近紅外分光光度計中波長掃描方式，做基線，后測定樣品
測定出不同的金屬氧化物薄膜在紫外可見區(qū)光學(xué)性能不同
圖表 1 不同位置反射率
Copyright © 2025 天津市拓普儀器有限公司版權(quán)所有 備案號：津ICP備10000615號-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
當(dāng)前位置：
